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XRD主要应用于样品的物相定性或半定量分析、晶体结构分析、材料的结构分析、残余应力的测定、晶粒大小测定、结晶度、纳米颗粒粒度分布、倒易空间mapping、高分辨单晶薄膜、薄膜物相、薄膜应力、薄膜粗糙度、变温过程中的物相变化和粉末结晶学等。
技术指标1)工作电压、电流:40kV, 40mA2)扫描速度:最小0.001°/10s3)最小可测角:0.001°4)操作位置:立式5) 轴向推力:500N