场发射透射电子显微镜
[ 基础信息 ]
生产国家 : 日本
制造厂商 : 日本电子株式会社
购置日期 : 2025-09-25
规格型号 : JEM-F200
[ 分类信息 ]
设备类型 : 显微镜
设备编号 : 2025004895
[ 联系信息 ]
联系人 : 刘灿军, 李茂华
存放地址 : 分析测试中心115
联系电话 : 李老师：13100321645（材料学院），刘老师：15073161782（化工
联系邮箱 :
[ 附加信息 ]
主要附件及配置 :
无
主要功能及特色 :
主要用于材料的高分辨形貌观察和微区的晶体结构分析，系统有电子光学系统、高压系统、真空系统等部分组成。可以在极短时间内得到高分辨率的图像观察和成分分析，结合高灵敏度的能谱仪可以实现快速的成分分析。
主要规格及技术指标 :
透射(TEM)模式分辨率：点分辨率：≤0.23nm@200KV；线分辨率：≤0.10nm@200KV；0.2nm@80KV；信息分辨率：≤0.12nm@200KV。扫描透射 (STEM) 模式分辨率：HAADF分辨率：≤0.16nm（200kV）；≤0.34nm（80kV）；SEI分辨率：≤1.0nm(200kV)；。X射线能谱分析仪：能量分辨率：≤133eV。
